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聚星科技——NI Week2005
NIWeek2005的技术焦点:1,LabVIEW -加强核心处理能力 LabVIEW软件的核心从来没有发生改变,多年来NI一直加大研发力度,不断为LabVIEW添加新的测试工具包(Toolkit),使LabVIEW可以采用不同的硬件,并扩展到更多的应用领域(包括FPGA、DSP等)。2,总线- PXI Express的发布,以及开发基于两种高速总线的模块,支持高吞吐量的测试应用,3.进行广泛技术交流的三大峰会和主题展览!NI与各行业的专家一同为大家做了很多精彩的演讲,并辅助现场的产品演示和培训,生动地探讨了各个技术领域存在的问题,以及NI对有效解决这些问题的帮助。与会的专家都是行业界的精英,比如NS公司首席技术专家和研究员、加州大学伯克利分校的Ahmad Bahai教授、州基督大学的Patrick Walter博士、ATA Engineering公司的Havard Vold博士等。
  1. 2011/8/22
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NI LabVIEW 2011隆重推出,让您事半功倍!
百万工程师和科学家可使用NI LabVIEW图形化编程环境,借由直观的图标和连线,开发复杂且类似流程图的测量、测试和控制系统。 它既能无可比拟地集成数千款硬件设备,也能通过上百个内置库实现高级分析和数据的可视化——两者都能创建虚拟仪器。NI LabVIEW平台可在多种终端和操作系统中扩展,并且自1986年推出便成为行业领袖。 查看详细
  1. 2011/8/21
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RFID识别演示——NI Week2005
NIWeek2005的技术焦点:1,LabVIEW -加强核心处理能力 LabVIEW软件的核心从来没有发生改变,多年来NI一直加大研发力度,不断为LabVIEW添加新的测试工具包(Toolkit),使LabVIEW可以采用不同的硬件,并扩展到更多的应用领域(包括FPGA、DSP等)。2,总线- PXI Express的发布,以及开发基于两种高速总线的模块,支持高吞吐量的测试应用,3.进行广泛技术交流的三大峰会和主题展览!NI与各行业的专家一同为大家做了很多精彩的演讲,并辅助现场的产品演示和培训,生动地探讨了各个技术领域存在的问题,以及NI对有效解决这些问题的帮助。与会的专家都是行业界的精英,比如NS公司首席技术专家和研究员、加州大学伯克利分校的Ahmad Bahai教授、州基督大学的Patrick Walter博士、ATA Engineering公司的Havard Vold博士等。
  1. 2011/8/19
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汽车演示——NI Week2005
NIWeek2005的技术焦点:1,LabVIEW -加强核心处理能力 LabVIEW软件的核心从来没有发生改变,多年来NI一直加大研发力度,不断为LabVIEW添加新的测试工具包(Toolkit),使LabVIEW可以采用不同的硬件,并扩展到更多的应用领域(包括FPGA、DSP等)。2,总线- PXI Express的发布,以及开发基于两种高速总线的模块,支持高吞吐量的测试应用,3.进行广泛技术交流的三大峰会和主题展览!NI与各行业的专家一同为大家做了很多精彩的演讲,并辅助现场的产品演示和培训,生动地探讨了各个技术领域存在的问题,以及NI对有效解决这些问题的帮助。与会的专家都是行业界的精英,比如NS公司首席技术专家和研究员、加州大学伯克利分校的Ahmad Bahai教授、州基督大学的Patrick Walter博士、ATA Engineering公司的Havard Vold博士等。
  1. 2011/8/18
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Fluke 客户体验调研-耐用性
客户体验调研-耐用性
  1. 2011/8/2
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Fluke 红外热像仪SmartView 3D介绍
Fluke SmartView Software Fluke SmartView软件介绍 该热像专业报告软件界面非常直观,不一定非得是电脑天才才能使用 —但它却使您表现地像个天才!工厂主们收到这样一份热像专业报告,一定为拥有像您一样的员工而骄傲!
  1. 2011/8/1
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彩电维修常用方法和仪器介绍——家电维修(5.2)
家电维修第五部分:彩色电视机的维修!金陵职业大学副教授谢东藩主讲的家电维修教程,共20集,讲得非常详细,有维修理论、电子器件的识别、现场的维修录象等等。
  1. 2011/7/29
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Fluke 客户体验调研-聚焦简易性
客户体验调研-聚焦简易性
  1. 2011/7/22
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Fluke TL175测试线表笔介绍
“TL175 TwistGuard”测试线是全世界唯一一款可调节笔尖护套的测试线产品,可以在各种不同的测量环境下使用。用户通过简单地扭动测试线即可调节暴露的表笔的笔尖长度。笔尖收缩时,TL175测试线的安全等级为CAT II 1000 V,笔尖完全露出时测试线的安全等级为CAT III 1000 V和CAT IV 600 V。
  1. 2011/7/18
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Fluke 红外热像仪能给您带来什么
红外热像仪能给您带来什么
  1. 2011/6/30
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