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首次使用LabVIEW仪器控制应用演示: 首次使用LabVIEW仪器控制应用演示!了解LabVIEW如何在几分钟内控制仪器，仪器驱动探测器是如何自动监测附带的仪器以及从仪器驱动网络上下载下来的驱动和例程，这些都是在LabVIEW环境里完成的。

2013/2/18
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多通道数据采集与分析系统的构建要诀: 在构建多通道数据采集与分析系统时，需要考虑很多因素和挑战：比如根据测试对象的不同，如何选择不同平台的数采设备；怎样确保单个通道数据的采样性能；如何保证多通道、多系统间数据的有效同步；如何保证海量数据的传输，存储以及后期挖掘等等。本讲座将结合实际应用以及NI公司最新的数据采集技术与产品，帮您梳理构建大型多通道数据采集系统的要素，应对大型项目挑战。更多信息 NI主页：http://china.ni.com NI数据采集视频平台：http://china.ni.com/demo/daq

2012/12/19
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NIdays2012全球图形化系统设计盛会在北京隆重召开: 第十五届NIdays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于推动测试测量领域的自动化技术水平和创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。主题演讲是本届盛会的重头戏，来自NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生、NI大中华区总经理陈大庞领导出席会议并发表讲话。Ajit先生阐述NI在测试测量仪器创新的足迹及面对未来新技术和新应用的挑战，表明 NI将会一直延续摩尔定律在测试测量的长期发展。其次， NI的五位技术工程师分别介绍了NI今年推出的Labview2012、用于高性能嵌入式测量与数据记录应用的CompactDAQ独立式机箱及图形化设计在自动化测试应用、图形化系统设计在嵌入式监测与控制应用等新产品新技术。值得重点关注是，NI中国资深技术市场工程师汤敏现场揭秘了NI全球首款矢量信号收发仪的发布， NI射频和微波测试经理Erik Johnson先生与大家分享了首款矢量信号收发仪测试的故事。通过新产品和新技术的发布，直指“仪器变革进行时”的会议主题。

2012/12/16
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图形化系统设计在射频领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统设计在嵌入式监控方面的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---基于数据采集平台的创新: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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面向二十一世纪的系统设计: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---基于平台的方法用于测量与控制: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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NI发布NI CompactDAQ系统-gongkong《行业快讯》2012年第35期(总第54期)

NI发布NI CompactDAQ系统-gongkong《行业快讯》2012年第35期(总第54期): 美国国家仪器公司近日发布最新独立 NI CompactDAQ系统，它是一个高性能的嵌入式测量和数据记录平台，内置双核Intel处理器，可运行数据采集、在线数据分析和数据记录程序。利用NI CompactDAQ 平台，工程师可以使用LabVIEW自定义一个完整的测量系统，也可以利用600多个NI联盟伙伴网络，实现自定制即用型数据记录解决方案。

2012/10/31
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