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助您应对工业测控新兴挑战-PAC平台选型指南_PAC高峰论坛2007: 在基于PC的测量测试领域，NI是全球领先者，是虚拟仪器的领头羊。本次论坛中，NI技术市场工程师俞涛先生的主题为“助您应对工业测控新兴挑战”，在介绍“使用CompactRIO开发EDM过程控制器”、“在食品加工中增加视觉进行优化”、“壳牌石油-S3 抽压系统”等案例过程中，NI工程师另辟蹊径，着重讲解了用户在试用NI PAC平台时如何选型，从I/O、控制算法到软件平台等各个环节，详细介绍了如何利用PAC构建从简单到复杂的控制系统。