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泰克新系列高速码型发生器- PPG3000 -gongkong《行业快讯》2012年第45期(总第64期)
12月24日,泰克公司宣布推出新系列高速码型发生器--- PPG3000和误差检测仪--- PED3000来支持32 Gb/s光和串行数据通信测试。新的PPG3000系列码型发生器和PED3000系列误码检测仪支持多通道图形发生并带有通道专属数据编程功能,非常适用于有关重要标准(例如需要4个通道的100G以太网)的重要余量测试
  1. 2013/1/14
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英威腾苏州工业产业园建成-gongkong《行业快讯》2012年第44期(总第63期)
12月6日, “英威腾苏州工业产业园开工奠基仪式”举行。新园区将建成一个10万平方米的集产品开发、应用集成、测试认证、产品制造、业务培训和市场营销为一体的工业自动化产业园。预计通过3-5年的努力,新公司将逐渐成为英威腾的工业自动化基地,实现生产制造50万套产品和设备的能力,基地建成后将为公司带来5亿元以上的年产值,成为公司未来的利润增长点。
  1. 2013/1/5
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多通道数据采集与分析系统的构建要诀
在构建多通道数据采集与分析系统时,需要考虑很多因素和挑战:比如根据测试对象的不同,如何选择不同平台的数采设备;怎样确保单个通道数据的采样性能;如何保证多通道、多系统间数据的有效同步;如何保证海量数据的传输,存储以及后期挖掘等等。本讲座将结合实际应用以及NI公司最新的数据采集技术与产品,帮您梳理构建大型多通道数据采集系统的要素,应对大型项目挑战。 更多信息 NI主页:http://china.ni.com NI数据采集视频平台:http://china.ni.com/demo/daq
  1. 2012/12/19
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NIdays2012全球图形化系统设计盛会在北京隆重召开
第十五届NIdays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于推动测试测量领域的自动化技术水平和创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。 主题演讲是本届盛会的重头戏,来自NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生、NI大中华区总经理陈大庞领导出席会议并发表讲话。Ajit先生阐述NI在测试测量仪器创新的足迹及面对未来新技术和新应用的挑战,表明 NI将会一直延续摩尔定律在测试测量的长期发展。其次, NI的五位技术工程师分别介绍了NI今年推出的Labview2012、用于高性能嵌入式测量与数据记录应用的CompactDAQ独立式机箱及图形化设计在自动化测试应用、图形化系统设计在嵌入式监测与控制应用等新产品新技术。值得重点关注是,NI中国资深技术市场工程师汤敏现场揭秘了NI全球首款矢量信号收发仪的发布, NI射频和微波测试经理Erik Johnson先生与大家分享了首款矢量信号收发仪测试的故事。通过新产品和新技术的发布,直指“仪器变革进行时”的会议主题。
  1. 2012/12/16
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图形化系统设计在射频领域的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统设计在嵌入式监控方面的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---基于数据采集平台的创新
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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面向二十一世纪的系统设计
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---基于平台的方法用于测量与控制
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办,吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用,在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
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