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[第9讲]ARM启动代码的分析(4): 这主要通过设置13 个从1c80000(BWSCON)开始的特殊寄存器来设置. 0x1c80000为特殊寄存器的首地址. BWSCON(0x1c80000): 配置总线宽度 data Bus Width :8-bit,16-bit, 32-bit BANKCON0-7(0x1c80004-0x1c80020): 访问周期[10:8] Access cycle 存储器的类型[16:15](Bank6,Bank7) 定时Trcd的控制信号

[第7讲]ARM启动代码的分析(2): 学习ARM，都不可避免地要了解系统引导，引导程序是系统加电后运行的第一段软件代码，本章將以S3C44B0X为目标来分析引导程序

[第2讲]开发平台硬件安装与软件安装: 本节主要介绍了三、开发平台硬件安装；四、开发平台软件安装711523100001 target=_blank>查看本教程目录

学ARM和学单片机一样简单[第1讲]开发平台硬件资源与软件资源: 本节主要介绍了一、开发平台硬件资源；二、开发平台软件资源及文档711523100001 target=_blank>查看本教程目录

集成运算放大器---上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 一、实验目的： 1．通过对集成运算放大器μA741参数的测试，了解集成运算放大器组件主要参数的定义和表示方法。 2．掌握运算放大器主要参数的测试方法。二、实验原理：集成运算放大器是一种使用广泛的线性集成电路器件，和其它电子器件一样，其特性是通过性能参数来表示的。集成电路生产厂家为描述其生产的集成电路器件的特性，通过大量的测试，为各种型号的集成电路制定了性能指标。符合指标的就是合格产品，否则就是不合格产品。要能够正确使用集成电路器件，就必须了解集成电路各项参数的含义及数值范围。集成电路的性能指标可以从产品说明书或器件手册查到，因此，我们必须学会看产品说明书和查阅器件手册。由于集成电路是半导体器件，而半导体器件的性能参数常常有较大的离散性，因此，我们还必须掌握各项参数的测试方法，这样才能保证在电路中使用的器件是合格产品，满足电路设计的需要。运算放大器的性能参数可以使用专用的测试仪器进行测试（“运算放大器性能参数测试仪”），也可以根据参数的定义，采用一些简易的方法进行测试。本次实验是学习使用常规仪表，对运算放大器的一些重要参数进行简易测试的方法。

[第31讲] 从Q0.0输出PWM脉冲: 本节重点讲解了如何从Q0.0输出PWM脉冲的方法，课堂上与学生互动，举例说明符合实际应用要求的简单编程方法及常出现的错误例程。

[第30讲] S7-200中的高速计数器（下）: 本节重点讲解了S7-200中的高速计数器，介绍了模式一~模式四的使用，课堂上与学生互动，举例说明符合实际应用要求的简单编程方法及常出现的错误例程。

[第29讲] S7-200中的高速计数器（上）: 本节重点讲解了S7-200中的高速计数器，介绍了模式一~模式四的使用，课堂上与学生互动，举例说明符合实际应用要求的简单编程方法及常出现的错误例程。

[第28讲] S7-200中的带参数调用子程序: 本节重点讲解了S7-200中的带参数调用子程序，课堂上与学生互动，举例说明符合实际应用要求的简单编程方法及常出现的错误例程。