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多通道数据采集与分析系统的构建要诀
多通道数据采集与分析系统的构建要诀
在构建多通道数据采集与分析系统时，需要考虑很多因素和挑战：比如根据测试对象的不同，如何选择不同平台的数采设备；怎样确保单个通道数据的采样性能；如何保证多通道、多系统间数据的有效同步；如何保证海量数据的传输，存储以及后期挖掘等等。本讲座将结合实际应用以及NI公司最新的数据采集技术与产品，帮您梳理构建大型多通道数据采集系统的要素，应对大型项目挑战。 更多信息 NI主页：http://china.ni.com NI数据采集视频平台：http://china.ni.com/demo/daq
  1. 2012/12/19
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台达C200变频器的介绍与应用
台达C200变频器的介绍与应用
产业机械一直是台达变频器产品应用的强势领域，特别像输送、木工、纺织及食品包装等行业。为了加强在此类行业内的竞争力和产品性价比，特推出一款新产品：C200系列。此款产品结构紧实，性能优越，外观精巧，适用于中低功率段，是讲究性能的最佳解决方案。本次演讲，向大家展示C200变频器的市场定位，产品特点，以及目前市场上成功的应用案例，从而使大家能够深刻了解此款产品。
  1. 2012/12/19
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FDT技术概述
FDT技术概述
一、FDT选择的基础技术COM、ActiveX和XML，它们是什么、在FDT中扮演的角色以及如何使用。通过几个典型操作来演示在FDT中这些技术是如何工作的。 二、我们为什么需要FDT 2技术；FDT 2需要满足的需求有哪些；FDT 2为什么选择微软的.NET技术；FDT 2的整体架构；FDT 2对FDT 1.x的兼容；FDT 2在性能、安全、开发支持等方面做出的改进。
  1. 2012/12/17
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FDT 2.0简介
FDT 2.0简介
一、FDT选择的基础技术COM、ActiveX和XML，它们是什么、在FDT中扮演的角色以及如何使用。通过几个典型操作来演示在FDT中这些技术是如何工作的。 二、我们为什么需要FDT 2技术；FDT 2需要满足的需求有哪些；FDT 2为什么选择微软的.NET技术；FDT 2的整体架构；FDT 2对FDT 1.x的兼容；FDT 2在性能、安全、开发支持等方面做出的改进。
  1. 2012/12/17
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图形化系统设计在射频领域的应用
图形化系统设计在射频领域的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用
图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统设计在嵌入式监控方面的应用
图形化系统设计在嵌入式监控方面的应用
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---基于数据采集平台的创新
图形化系统级设计---基于数据采集平台的创新
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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面向二十一世纪的系统设计
面向二十一世纪的系统设计
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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图形化系统级设计---基于平台的方法用于测量与控制
图形化系统级设计---基于平台的方法用于测量与控制
第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。
  1. 2012/12/14
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